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NPFLEX 3D 非接触式轮廓仪

NPFLEX 3D 非接触式轮廓仪
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NPFLEX 3D 非接触式轮廓仪

NPFLEX 3D 光学轮廓仪.

 

制造商Bruker

 

用途及应用领域

 

用于观察和分析样品表面的三维形貌,微观结构及粗糙度等,应用于精密加工,LED,半导体,材料科学,摩擦磨损等一系列表面检测要求。在科学研究,产品开发,工艺控制,失效分析有广泛的应用。

 

主要部件功能简介

 

NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量
布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力,实现更快的测量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理,这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像,进行快速丰富的数据采集,帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验,NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统,而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。

其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度样品

· 创新性的空间设计使得可测零件(样品)更大、形状更多

· 开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位

高效的三维表面信息测量

· 每次测量均可获得完整表面信息,并可用于多种分析目的

· 更容易获得更多的测量数据来帮助分析

垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节 

· 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率

· 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据,为日渐苛刻的加工工艺提供保障

测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效

· 最少的样品准备时间和测量准备时间

· 比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据

 

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